Äpre社 干渉計 Sシリーズ

・光学部品のレイアウトと品質の最適化により、干渉縞の増加に伴う干渉計内部のリトレースエラーを最小化、干渉縞に依存しない高精度なデータ、選べる測定口径、独自の外部光源オプション
-コマ収差を最小化：0.012WavePV＠1.5Fringe/mm Tilt
-干渉縞0本と500本での差分で、λ/20未満
・回折限界までの優れたイメージング分解
-8本/mm＠4.2MPixカメラ
-100μm/100mm口径
・検出干渉縞本数の最大化
-650本/100mm口径
・過酷な振動環境対応キャリアフリンジ測定モード
・REVEALソフトウェア（日本語対応、無償アップグレード）

Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法)

白色フィゾー干渉計のための、Äpre社の特許技術のオプション光源。SCI（周波数制御干渉法）光源は、素早く、簡単にアライメント -> 干渉縞分離 -> 測定が可能です。透明な光学部品に掛かる計測時間を短縮し、測定精度も向上します。
・コヒーレンズの選択で、表裏面の干渉縞を個別に計測
・633nmの中心波長のスペクトルで、キャビティ長と位相を制御
・75umから500mmの物理的なキャビティ長に対応
・各種平面基板、プリズム、ドーム、直接的な曲率半径計測、固定キャビティ（内部干渉縞）、大口径オプティクス

gbs社 3次元光学プロファイラー smartWLI extened range

GBS光学式3次元表面プロファイラーは、レンズ金型などの精密加工部品、自動車部品、電子部品、機能材料などの製造工程や品質検査において、表面の凹凸、傷、節目などの表面性状を非接触で測定する計測機器です。三次元表面性状測定の国際規格ISO25178-6（国内規格JIS B0681-6）である垂直走査型低コヒーレンス干渉法（CSI）は、観察視野（干渉対物レンズの倍率）に依存しない高い垂直（凹凸）感度が特長です。GBS smartWLIシリーズには、製造現場でのインライン検査、大型の対象物を計測するオンマシン計測、エンジンシリンダーの内壁計測に求められる計測器があります。

Äpre社 干渉計 Sシリーズ

・光学部品のレイアウトと品質の最適化により、干渉縞の増加に伴う干渉計内部のリトレースエラーを最小化、干渉縞に依存しない高精度なデータ、選べる測定口径、独自の外部光源オプション
-コマ収差を最小化：0.012WavePV＠1.5Fringe/mm Tilt
-干渉縞0本と500本での差分で、λ/20未満
・回折限界までの優れたイメージング分解
-8本/mm＠4.2MPixカメラ
-100μm/100mm口径
・検出干渉縞本数の最大化
-650本/100mm口径
・過酷な振動環境対応キャリアフリンジ測定モード
・REVEALソフトウェア（日本語対応、無償アップグレード）

Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法)

白色フィゾー干渉計のための、Äpre社の特許技術のオプション光源。SCI（周波数制御干渉法）光源は、素早く、簡単にアライメント -> 干渉縞分離 -> 測定が可能です。透明な光学部品に掛かる計測時間を短縮し、測定精度も向上します。
・コヒーレンズの選択で、表裏面の干渉縞を個別に計測
・633nmの中心波長のスペクトルで、キャビティ長と位相を制御
・75umから500mmの物理的なキャビティ長に対応
・各種平面基板、プリズム、ドーム、直接的な曲率半径計測、固定キャビティ（内部干渉縞）、大口径オプティクス

gbs社 3次元光学プロファイラー smartWLI extened range

GBS光学式3次元表面プロファイラーは、レンズ金型などの精密加工部品、自動車部品、電子部品、機能材料などの製造工程や品質検査において、表面の凹凸、傷、節目などの表面性状を非接触で測定する計測機器です。三次元表面性状測定の国際規格ISO25178-6（国内規格JIS B0681-6）である垂直走査型低コヒーレンス干渉法（CSI）は、観察視野（干渉対物レンズの倍率）に依存しない高い垂直（凹凸）感度が特長です。GBS smartWLIシリーズには、製造現場でのインライン検査、大型の対象物を計測するオンマシン計測、エンジンシリンダーの内壁計測に求められる計測器があります。