レーザーEXPO H-22
本装置は色収差共焦点原理を用いた高精度の超高速センサーにより、最大 6,000 ライン/秒の測定速度で、最大 100 万ポイント/秒(HSタイプ)を超える測定が可能です。段差、異物、キズ、突起、膜厚などを大面積で短時間検査測定する事が可能になります。測定ワークも選ばず鏡面でも測定可能です、複雑な形状でも正確に測定できます。卓上機から、全自動型インラインにも容易に対応致します。
奥行き幅、共に15cmの超小型AFMで、操作もノートPCから全て行えます。
SEMやレーザー顕微鏡、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、
スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。
走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択できます。
本装置は色収差共焦点原理を用いた高精度の超高速センサーにより、最大 6,000 ライン/秒の測定速度で、最大 100 万ポイント/秒(HSタイプ)を超える測定が可能です。段差、異物、キズ、突起、膜厚などを大面積で短時間検査測定する事が可能になります。
本装置は高速高解像度カメラと照明系を工夫して小型レンズの(スマホ含む)の外観検査を高速高精度で、
行います。またレンズ単体とモジュールの双方の検査に対応します。異物や、傷、クラック等の検査も可能。
手動でサンプルを搭載し、検査は自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度CMOSカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。またインラインにも容易に対応致します。
2球の径と中心間距離により画像処理校正ができます。また、
2球は5mmφの円の中にありマクロ検査用の校正円に利用できます。
CADデータをマスターとした製品の自動寸法測定が可能。
投影機や測定顕微鏡を用いた製品の寸法測定は手間のかかる作業ですが、電子投影機EP500は、その煩雑な作業を全て自動化します。また製品を基準としてマスター登録するのでは無くCADデータを基準としての登録が可能です。その為に交差の大きい製品でも測定及び良否判定が可能である上に登録作業を効率良く行う事が出来ます。多品種の製品測定には最適です。カメラは目的によって最適な物を選択する事は当然ですが、光学系も選択が可能です
本装置は色収差共焦点原理を用いた高精度の超高速センサーにより、最大 6,000 ライン/秒の測定速度で、最大 100 万ポイント/秒(HSタイプ)を超える測定が可能です。段差、異物、キズ、突起、膜厚などを大面積で短時間検査測定する事が可能になります。測定ワークも選ばず鏡面でも測定可能です、複雑な形状でも正確に測定できます。卓上機から、全自動型インラインにも容易に対応致します。
奥行き幅、共に15cmの超小型AFMで、操作もノートPCから全て行えます。
SEMやレーザー顕微鏡、高倍率の光学顕微鏡の変わりに使用できます。測定モードも標準で、
スタティックフォースモード、ダイナミックフォースモード、フェイズコントラスト、位相測定、フォースモデュレーション、スプレッディングレジスタンス、外部入力が可能です。
走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択できます。
本装置は色収差共焦点原理を用いた高精度の超高速センサーにより、最大 6,000 ライン/秒の測定速度で、最大 100 万ポイント/秒(HSタイプ)を超える測定が可能です。段差、異物、キズ、突起、膜厚などを大面積で短時間検査測定する事が可能になります。
本装置は高速高解像度カメラと照明系を工夫して小型レンズの(スマホ含む)の外観検査を高速高精度で、
行います。またレンズ単体とモジュールの双方の検査に対応します。異物や、傷、クラック等の検査も可能。
手動でサンプルを搭載し、検査は自動で行います。従来の顕微鏡目視測定に比べ、高精度CMOSカメラにより圧倒的な高精度、高再現性を短時間で実現いたします。またインラインにも容易に対応致します。
2球の径と中心間距離により画像処理校正ができます。また、
2球は5mmφの円の中にありマクロ検査用の校正円に利用できます。
CADデータをマスターとした製品の自動寸法測定が可能。
投影機や測定顕微鏡を用いた製品の寸法測定は手間のかかる作業ですが、電子投影機EP500は、その煩雑な作業を全て自動化します。また製品を基準としてマスター登録するのでは無くCADデータを基準としての登録が可能です。その為に交差の大きい製品でも測定及び良否判定が可能である上に登録作業を効率良く行う事が出来ます。多品種の製品測定には最適です。カメラは目的によって最適な物を選択する事は当然ですが、光学系も選択が可能です