光波面センサー: HASO(Imagine Optic社）

光学部品・光学系・レーザーの収差解析や品質解析を簡単に行うシャックハルトマン方式の測定器です。
波長範囲：UV,可視～1.5μm帯（Si, InGaAs受光素子）
LIFT技術により通常のシャックハルトマン方式の4x4倍の高分解能データ分析です。
スポットトラッカー機能により光軸調整の省略が可能です。
MTF,PSFの他にビーム品質も測定可能です。

光源一体型光波面測定器：R-FLEX2（Imagine Optic社）

光学部品のダブルパス設定での測定や反射測定に有効です。
ビームエキスパンダを追加して最大200mm径の測定光出力が可能です。

レーザービームプロファイラ(ビーム品質M2測定含む）：Cinogy社

150nm～1800nm帯域で各種モデルがあります。
35mmm大口径用途はCMOS-3502
超小型(15mmx15mmx11.5mm)用途はCMOS-Pico
ビーム品質M2測定にはCinSquare。

光波面センサー: HASO(Imagine Optic社）

光学部品・光学系・レーザーの収差解析や品質解析を簡単に行うシャックハルトマン方式の測定器です。
波長範囲：UV,可視～1.5μm帯（Si, InGaAs受光素子）
LIFT技術により通常のシャックハルトマン方式の4x4倍の高分解能データ分析です。
スポットトラッカー機能により光軸調整の省略が可能です。
MTF,PSFの他にビーム品質も測定可能です。

光源一体型光波面測定器：R-FLEX2（Imagine Optic社）

光学部品のダブルパス設定での測定や反射測定に有効です。
ビームエキスパンダを追加して最大200mm径の測定光出力が可能です。

レーザービームプロファイラ(ビーム品質M2測定含む）：Cinogy社

150nm～1800nm帯域で各種モデルがあります。
35mmm大口径用途はCMOS-3502
超小型(15mmx15mmx11.5mm)用途はCMOS-Pico
ビーム品質M2測定にはCinSquare。