レンズ設計・製造展 P-22

キヤノンマーケティングジャパン㈱

  • 出展のみどころ

    ①米国アプレ社の"SCI光源" + "Sシリーズ干渉計"の実機展示
    S100|4MP 干渉計とSCI光源で、平行平面板の表面測定及び内部干渉縞（表裏面）の測定を実演。
    ②独国GBS metrology社の非接触３次元形状測定機/白色干渉顕微鏡"smartWLI extended range"の実機展示
    金属加工面の表面性状の計測を実演。
    ③キヤノン株式会社のデジタルガルバノスキャナーの実機展示

  • Äpre社 干渉計 Äシリーズ/ Sシリーズ

    「厳格なスペック管理で製造されたハイエンドなレーザー干渉計」
    主な特長
    ・直接カメラに干渉縞を結像することで得られる高解像度
    ・CNC補正研磨で効果を発揮する少ない画像歪み（ディストーション）
    ・計測面が蹴斜している場合に発生するリトレースエラーを最小化
    ・He-Ne光源に加えて、SCI光源、波長変調光源、特殊光源も追加可能
    ・直観的で視認性の高いソフトウエア（従来のソフトウエアとの互換性あり）

  • Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法)

    Äシリーズ/Ｓシリーズ干渉計のオプション光源：SCI光源
    「多重干渉が発生するパーツ、薄い透明基板に新しい計測ソリューション」
    優位性
    ・レーザー光源では多重干渉が発生するパーツで、任の距離の干渉縞を生成
    ・厚さ<100μmの基板の内部干渉縞(表裏面）計測
    ・光源のスペクトル制御で位相シフト測定
    主な仕様
    ・最小光学距離：150μm
    ・最大光学距離：2000mm
    ・可干渉深度：150μmから1mm

  • GBS metrology社 3次元光学プロファイラー smartWLI シリーズ

    「高速カメラと大規模並列データ処理によるハイエンド白色干渉計」
    主な特徴
    ・三次元表面性状の国際規格ISO25178-604に準拠
    ・GPGPUを使用した超並列/超高速処理で測定時間と解像度を強化
    ・低ノイズで超平滑面の計測に有効なHD-EPSIアルゴリズムを搭載
    ・超高速プレスキャン機能を活用した”うねりのある超平滑面"の高速計測
    ・高精度なステッチングを実現するアルゴリズム

  • 【参考出展】高応答デジタルガルバノモータ

    【参考出展】
    応答性：60%UP　※同条件におけるGM-2010との比較
    応答性を大幅に向上した新シリーズ
    高い分解能を保持したまま応答性の向上を実現

    想定アプリケーション
    ・レーザー穴あけ
    ・レーザーマーキング
    ・微細加工　　　　　　等

  • 【参考出展】大口径レーザ光向け デジタルガルバノモータ

    【参考出展】
    最大レーザ入光サイズ：φ40mm
    最大速度：75%UP　※同条件におけるGM-2020との比較

    高精度/高分解能を誇るGM-2000シリーズに新たなモータをラインアップ
    デジタル式の高精度を実現しながら、大口径レーザ光に対応
    熱的安定性と微小レーザスポットによる高精度加工を実現

    想定アプリケーション
    ・3Dプリンタ
    ・レーザー溶接
    ・微細加工　　　　　　等

キヤノンマーケティングジャパン㈱

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