レーザーEXPO A-06
当社では、光ファイバ・半導体レーザ・光導波路等各種光デバイスの発光ビーム形状や発光特性解析用のさまざまな光学系・光計測装置を取り揃えております。今回は、光デバイスの発光特性解析用NFP計測装置・FFP計測装置を中心に実演展示致します。また、当社が新規に開発した次世代光アクティブモジュール高速実装組立技術、および微細構造光細線導波路の光学特性測定装置の動画展示による製品紹介を行います。
光ビームNFP計測装置は、各種発光デバイス・光ファイバ・光導波路・光モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能な汎用光ビームプロファイラです。当社製高機能NFP計測光学系、各種光検出器・光ビーム解析モジュールとの組み合わせにより、可視~近赤外波長域のNFP計測・光ビーム形状観察や光ビームプロファイル計測・解析に使用することができます。
FFP計測装置は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFP(ファーフィールドパターン:遠視野像)を計測する装置です。当社のFFP計測光学系 M-Scope type F、各種光検出器・光ビーム解析モジュールとの組み合わせにより、可視域から近赤外波長帯のFFP計測・放射角度分布計測・出射N.A.計測・解析に使用することができます。
光導波路光学特性測定装置は、各種光導波路の挿入損失、出射端NFP、FFP、偏光特性を測定する装置です。多チャンネル光導波路各チャンネルの自動調芯による挿入損失測定を行い、さらに各チャンネルの調芯点におけるNFP、FFP、偏光消光比の測定を自動的に行います。多チャンネル導波路各チャンネルの光学特性が効率的に測定できます。
集積型光アクティブモジュール実装組立装置は、高い伝送性能・低消費電力・超小型の次世代高集積光トランシーバモジュールとして期待されているEOM (Embedded Optical Module)の高速実装組立装置です。高速高精度画像処理によるパッシブアライメント方式を採用、EOM量産時のボトルネックとなる光I/Oコア光ピンと光ファイバアレイの位置決め調整と実装タクトを大幅に短縮できます。
当社では、光ファイバ・半導体レーザ・光導波路等各種光デバイスの発光ビーム形状や発光特性解析用のさまざまな光学系・光計測装置を取り揃えております。今回は、光デバイスの発光特性解析用NFP計測装置・FFP計測装置を中心に実演展示致します。また、当社が新規に開発した次世代光アクティブモジュール高速実装組立技術、および微細構造光細線導波路の光学特性測定装置の動画展示による製品紹介を行います。
光ビームNFP計測装置は、各種発光デバイス・光ファイバ・光導波路・光モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能な汎用光ビームプロファイラです。当社製高機能NFP計測光学系、各種光検出器・光ビーム解析モジュールとの組み合わせにより、可視~近赤外波長域のNFP計測・光ビーム形状観察や光ビームプロファイル計測・解析に使用することができます。
FFP計測装置は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFP(ファーフィールドパターン:遠視野像)を計測する装置です。当社のFFP計測光学系 M-Scope type F、各種光検出器・光ビーム解析モジュールとの組み合わせにより、可視域から近赤外波長帯のFFP計測・放射角度分布計測・出射N.A.計測・解析に使用することができます。
光導波路光学特性測定装置は、各種光導波路の挿入損失、出射端NFP、FFP、偏光特性を測定する装置です。多チャンネル光導波路各チャンネルの自動調芯による挿入損失測定を行い、さらに各チャンネルの調芯点におけるNFP、FFP、偏光消光比の測定を自動的に行います。多チャンネル導波路各チャンネルの光学特性が効率的に測定できます。
集積型光アクティブモジュール実装組立装置は、高い伝送性能・低消費電力・超小型の次世代高集積光トランシーバモジュールとして期待されているEOM (Embedded Optical Module)の高速実装組立装置です。高速高精度画像処理によるパッシブアライメント方式を採用、EOM量産時のボトルネックとなる光I/Oコア光ピンと光ファイバアレイの位置決め調整と実装タクトを大幅に短縮できます。