光源一体型光波面測定器：R-FLEX2（Imagine Optic社）

光学部品のダブルパス設定での測定や反射測定に有効です。
ビームエキスパンダを追加して最大200mm径の測定光出力が可能です。

光波面センサー: HASO SWIR LIFT 160

光学部品・光学系・レーザーの収差解析や品質解析を簡単に行うシャックハルトマン方式の測定器です。
波長範囲1050nm-1700nm、口径9.30mm x 7.44mm、データサンプリング数160 x 128の高分解能です。
スポットトラッカー機能により光軸調整の省略が可能です。

レーザービームプロファイラ(ビーム品質M2測定含む）：Cinogy社

150nm～1800nm帯域で各種モデルがあります。
35mmm大口径用途はCMOS-3502
超小型(15mmx15mmx11.5mm)用途はCMOS-Pico
ビーム品質M2測定にはCinSquare。

光源一体型光波面測定器：R-FLEX2（Imagine Optic社）

光学部品のダブルパス設定での測定や反射測定に有効です。
ビームエキスパンダを追加して最大200mm径の測定光出力が可能です。

光波面センサー: HASO SWIR LIFT 160

光学部品・光学系・レーザーの収差解析や品質解析を簡単に行うシャックハルトマン方式の測定器です。
波長範囲1050nm-1700nm、口径9.30mm x 7.44mm、データサンプリング数160 x 128の高分解能です。
スポットトラッカー機能により光軸調整の省略が可能です。

レーザービームプロファイラ(ビーム品質M2測定含む）：Cinogy社

150nm～1800nm帯域で各種モデルがあります。
35mmm大口径用途はCMOS-3502
超小型(15mmx15mmx11.5mm)用途はCMOS-Pico
ビーム品質M2測定にはCinSquare。