ハイエンドサーモグラフィ ImageIRⓇシリーズ

高性能・多機能・高速赤外線カメラを世界的に展開するドイツInfraTec社のハイエンドサーモグラフィを紹介。
解像度はエントリーモデルの320x256、標準640ｘ512、プロフェッショナル1280x1024や1920x1536を選択可能で各波長帯に応じた製品をラインナップ。レンズも顕微～望遠まで各種あり用途に合わせた提案が可能。顕微～望遠レンズを用意しており、各場面で撮影する事が可能。

ハイエンドサーモグラフィ ImageIRⓇ8300hp

解像度がVGAのImageIRⓇ8300シリーズの高機能版になります。マイクロスキャンによりSXGAの解像度で撮影する事が可能。HDR(ハイダイナミックレンジ)により測定温度範囲を10～1500℃に拡張する事が可能。ハイセンスにより任意で測定温度範囲を調整する事が可能。MIT(マルチインテグレーション)により測定温度範囲を拡張する事が可能。顕微～望遠レンズを用意しており、各場面で撮影する事が可能。

[ハイエンドサーモグラフィ]ImageIR® 9400hp

画素数1280x1024でフレームレート180Hzを達成。ビニング機能により同じ画角で画素数640x512でフレームレート622Hzを実現。マイクロスキャン機能により2560x2048画素に切替可能。レンズは0.16～8倍までの顕微や25～200mmレンズをラインナップ。HDR機能を使うと0～1000℃の広温度範囲を高速で観察可能。オプションソフトでアクティブサーモ化も可能。

光学ズーム式冷却サーモグラフィ ImageIR® 6300 Z

複数のレンズを購入するコストや、交換する手間から解放する、フルレンジ放射温度較正仕様の画期的なズームレンズ付きモデル、ImageIR 6300Zがハイエンドサーモグラフィ ImageIRシリーズに登場しました。最先端のHOT検出器(XBn技術)を採用、小型・軽量・低消費電力で、ドローンや航空機への搭載にも適したコンパクトなデザインです。

SWIR(近赤外)サーモグラフィ ImageIR® 8100/9100

InfraTec社のハイエンドサーモグラフィ、ImageIR®シリーズに、300℃以上の高温対象物の測定に適したSWIR(近赤外)モデルが登場しました。
量子型でありながらスターリングクーラー冷却を必要としないため、小型軽量・低消費電力・長寿命を実現。また、非常に小さい画素、5μmピッチの素子を採用しており、コンパクトながら高分解能での測定が可能です。さらに、本検出器の波長帯では中・遠赤外カメラとは違い、レンズに特殊な光学材料を必要としないため、比較的安価な光学系でも高画質を実現できます。
40×512画素モデル、1280×1024画素モデルの2種からお選びいただけます。

アクティブ・サーモグラフィ

非破壊、非接触、高温度分解能、高空間分解能、高速撮影可能な非破壊検査装置の一種のアクティブサーモグラフィを紹介致します。サンプルに通電、超音波、電磁誘導など外部から加熱、光を照射し、故意に熱的な不均一性を生み出し、サーモグラフィで温度差を検知します。その外部からの励起を周期的に行い、その周波数と同期検波する事により、より微小な温度差を検知する事が出来ます。
＜アプリケーション＞
溶接、接合部の検査、CFRPの検査、電気回路、半導体の検査、構造物の内部欠陥の検査
＜特長＞
安価でシームレスに提供可能なオプション
簡単操作の直感的なGUI
測定対象物の様々な状態をリアルタイム表示
ライブ画像と振幅画像の合成
カスタム可能で、実験室レベルから量産設備レベルまで柔軟に対応

スクラッチ・ディグ自動検査装置

【概要】
　光技術を用いて物体表面のキズを検出し、
　スクラッチ・ディグの評価や検査レポートの作成を行います。


【主な用途】
　・量産品の出荷検査・成績書作成
　・試作品の品質評価

【測定対象】
　・光学部品
　・半導体ウェハ
　　など

【特長】
　・非接触・非破壊
　・MIL規格またはISO規格に準拠した定量評価
　・複数個を並べて測定する場合でも個体ごとのレポートを作成
　・ユーザ側で設定できる閾値に応じて、合否判定も可能

光超音波センサ

【概要】
　測定対象に外部から熱を与えた際に出る超音波を捉えることで、
　人の目に見えない欠陥を「見える化」します。

【主な用途】
　・内部欠陥の検査
　・マイクロクラック(表面)の検査

【測定対象】
　・光学部品
　・工業製品
　　など

【特長】
　・非接触・非破壊
　・人の主観を含まない客観的な検査が可能
　・幅広い測定対象

ハイパースペクトル イメージングシステム

屋外での計測から、ハイパースペクトル顕微鏡、ラマン測定まで幅広いラインナップ。
分光分析に関する豊富な経験や実績を元に開発された、ClydeHSI社のハイパースペクトルイメージングシステムは、研究開発での高度な解析はもちろん、量産ラインでの高速選別まで、幅広く対応することができます。
ハイパースペクトルカメラ、光源、スキャナといったハードウェアと、解析用の専用ソフトウェアを含む、オールインワンシステムだから安心です。

積分球 SR300

SR300は、黒体炉、コリメータなどの赤外線カメラの試験装置で豊富な実績を誇るCI Systems社が提供する、低価格、高性能な積分球です。
可視～近赤外の広範囲にわたる波長で均一な輝度を実現しています。可視、近赤外カメラにおける均一性、感度、ノイズの計測や校正など、様々な試験にご使用いただけます。さらに、ナイトビジョン用のカメラの試験に適した、低輝度タイプもあります。
標準タイプでポート径1、2、4インチの3種類、低輝度タイプでポート径2、4インチの2種類のサイズをご用意しています。積分球単体はもちろん、コリメータと組合わせた装置や、総合的なカメラ試験システムまで、あらゆる試験に対応した装置を提供します。

赤外光源

赤外線を使った計測や分析に適した赤外光源を幅広く取り揃えています。
■ 広帯域で安定した放射を実現し、多くの用途に対応する「熱型赤外光源」
■ 狭帯域の発光により、研究開発や産業分野の特定用途に適した「赤外線レーザー」
さまざまな分野の計測・分析で、高い信頼性を発揮します。

赤外線センサ（PbS/PbSe、MCT、T2SL、焦電 LTO/DLaTGS、サーモパイル）

赤外分光、ガス分析、炎検知、温度計測、レーザー制御などに対応した高性能赤外線センサです。
【ラインナップ一例（選択肢は素子種類によります）】
・素子：PbS/PbSe、MCT、T2SL、焦電（LTO/DLaTGS）、サーモパイル
・チャンネル数：1/2/4/8ch
・パッケージ：TO-CAN、ベアチップ
・モジュール：プリアンプ、TECコントローラ付きなど
・アナログ出力、デジタル出力

ハンディ近赤外分光器

現場での迅速な測定に対応したハンディタイプの近赤外分光器です。
【波長範囲】
1000～1600nm（10000～6250cm-1）
1450～2450nm（6896.5～4081.6cm-1）

樹脂や繊維、太陽光パネルの素材判別や飼料の成分分析に加え、液体サンプルの測定にも対応しています。
製品詳細やデモにつきましては、お気軽にご相談ください。

赤外ビューポートフランジ・ウィンドウ

放射温度計やサーモグラフィの非接触温度測定などに適した赤外線用ビューポートです。
真空・加圧環境にも対応し、ICF規格品からカスタム品まで製作可能です。1個からのご注文や窓単体の販売も可能です。
主な窓材：Ge（ゲルマニウム）、Si（シリコン）、ZnSe（セレン化亜鉛）、ZnS（硫化亜鉛）、BaF₂（フッ化バリウム）、CaF₂（フッ化カルシウム）、サファイア、ダイヤモンド、カルコゲナイドガラス

赤外用 ハーフミラー、ビームスプリッタ

赤外用ハーフミラー、ビームスプリッタです。
「イメージング」や「分光分析」などで、光を分離したい場合におすすめです。

・SWIR MWIR ハーフミラー（1.5-5µm）
・MWIR ハーフミラー（2-8µm）
・LWIR ハーフミラー（7-14µm）

・可視透過/赤外反射 ダイクロイックミラー（400-700nm/3-12µm）
・赤外透過/可視反射 ダイクロイックミラー（400-700nm/3-12µm）

その他、プリズム、ブリュースター窓、ウェッジ窓、平行窓、光拡散板、偏光板、フィルタ（バンドパス、ブロードバンドパス、ショートパス、ロングパス、ND）、回転式分光フィルタなど各種オプティクスも取扱いがございます。お気軽にお問合せください。

77K 極低温用バンドパスフィルタ

77K～300K対応のバンドパスフィルタ
・指定温度用に光学設計
・温度変化に対し耐性が高い
・特注、1枚から製造可能

その他、短納期のストックフィルタ、赤外ウインドウ等、各種オプティクスを取り扱っております。

NDIRガスセンサ・ガス濃度計

プロセス管理や排ガス測定に適した小型NDIRガスセンサです。
リアルタイムで濃度を連続出力可能で、USB接続やアナログ出力対応のアクセサリもございます。
対応ガス：
CO₂、CH₄、C₂H₄、C₂H₂、C₃H₈、C₄H₁₀、CO、NO、SO₂、NH₃、HCOOH、N₂O、SF₆、燻蒸ガス（CH₃Br、SO₂F₂）、冷媒（R32、R410a、R1234yfなど）

UV照度計

波長220～560nmのUV光源の放射照度と積算線量の測定が可能です。
お客様ごとの測定条件に最適化してオーダーメイドで製作いたします。
【概要】
　様々な場面で活用できる、UV照度の測定器です。

【主な用途】
　・水銀ランプやUV-LEDの性能評価
　・UV照射装置の点検

【測定対象】
　・水銀ランプ
　・UV-LED
　・メタルハライドランプ
　・キセノンランプ
　・太陽光
　　など

【特長】
　・お客様ごとに異なる測定ニーズに合わせたオーダーメイド仕様
　・お手頃な価格
　・お手持ちのスマホやPCでも、専用アプリでUV測定が可能

干渉距離調整可能Fizeau干渉計AccuFiz-D

小型軽量AccuFizシリーズに、干渉距離が調整できるAccuFiz-Dが登場。
短コヒーレントレーザに与えた光路差と同じ光路差の位置関係にある2面のみの干渉縞を計測するため、真空槽や恒温槽の中で試験を行う光学系の干渉計での評価を、槽外に干渉系を置いたまま実施可能。
光路差機能付属の光源部が別筐体になることで、計測部本体の小型軽量性が保持され、様々な姿勢・環境での運用に応用・拡張可能。

ハイエンドサーモグラフィ ImageIRⓇシリーズ

高性能・多機能・高速赤外線カメラを世界的に展開するドイツInfraTec社のハイエンドサーモグラフィを紹介。
解像度はエントリーモデルの320x256、標準640ｘ512、プロフェッショナル1280x1024や1920x1536を選択可能で各波長帯に応じた製品をラインナップ。レンズも顕微～望遠まで各種あり用途に合わせた提案が可能。顕微～望遠レンズを用意しており、各場面で撮影する事が可能。

ハイエンドサーモグラフィ ImageIRⓇ8300hp

解像度がVGAのImageIRⓇ8300シリーズの高機能版になります。マイクロスキャンによりSXGAの解像度で撮影する事が可能。HDR(ハイダイナミックレンジ)により測定温度範囲を10～1500℃に拡張する事が可能。ハイセンスにより任意で測定温度範囲を調整する事が可能。MIT(マルチインテグレーション)により測定温度範囲を拡張する事が可能。顕微～望遠レンズを用意しており、各場面で撮影する事が可能。

[ハイエンドサーモグラフィ]ImageIR® 9400hp

画素数1280x1024でフレームレート180Hzを達成。ビニング機能により同じ画角で画素数640x512でフレームレート622Hzを実現。マイクロスキャン機能により2560x2048画素に切替可能。レンズは0.16～8倍までの顕微や25～200mmレンズをラインナップ。HDR機能を使うと0～1000℃の広温度範囲を高速で観察可能。オプションソフトでアクティブサーモ化も可能。

光学ズーム式冷却サーモグラフィ ImageIR® 6300 Z

複数のレンズを購入するコストや、交換する手間から解放する、フルレンジ放射温度較正仕様の画期的なズームレンズ付きモデル、ImageIR 6300Zがハイエンドサーモグラフィ ImageIRシリーズに登場しました。最先端のHOT検出器(XBn技術)を採用、小型・軽量・低消費電力で、ドローンや航空機への搭載にも適したコンパクトなデザインです。

SWIR(近赤外)サーモグラフィ ImageIR® 8100/9100

InfraTec社のハイエンドサーモグラフィ、ImageIR®シリーズに、300℃以上の高温対象物の測定に適したSWIR(近赤外)モデルが登場しました。
量子型でありながらスターリングクーラー冷却を必要としないため、小型軽量・低消費電力・長寿命を実現。また、非常に小さい画素、5μmピッチの素子を採用しており、コンパクトながら高分解能での測定が可能です。さらに、本検出器の波長帯では中・遠赤外カメラとは違い、レンズに特殊な光学材料を必要としないため、比較的安価な光学系でも高画質を実現できます。
40×512画素モデル、1280×1024画素モデルの2種からお選びいただけます。

アクティブ・サーモグラフィ

非破壊、非接触、高温度分解能、高空間分解能、高速撮影可能な非破壊検査装置の一種のアクティブサーモグラフィを紹介致します。サンプルに通電、超音波、電磁誘導など外部から加熱、光を照射し、故意に熱的な不均一性を生み出し、サーモグラフィで温度差を検知します。その外部からの励起を周期的に行い、その周波数と同期検波する事により、より微小な温度差を検知する事が出来ます。
＜アプリケーション＞
溶接、接合部の検査、CFRPの検査、電気回路、半導体の検査、構造物の内部欠陥の検査
＜特長＞
安価でシームレスに提供可能なオプション
簡単操作の直感的なGUI
測定対象物の様々な状態をリアルタイム表示
ライブ画像と振幅画像の合成
カスタム可能で、実験室レベルから量産設備レベルまで柔軟に対応

スクラッチ・ディグ自動検査装置

【概要】
　光技術を用いて物体表面のキズを検出し、
　スクラッチ・ディグの評価や検査レポートの作成を行います。


【主な用途】
　・量産品の出荷検査・成績書作成
　・試作品の品質評価

【測定対象】
　・光学部品
　・半導体ウェハ
　　など

【特長】
　・非接触・非破壊
　・MIL規格またはISO規格に準拠した定量評価
　・複数個を並べて測定する場合でも個体ごとのレポートを作成
　・ユーザ側で設定できる閾値に応じて、合否判定も可能

光超音波センサ

【概要】
　測定対象に外部から熱を与えた際に出る超音波を捉えることで、
　人の目に見えない欠陥を「見える化」します。

【主な用途】
　・内部欠陥の検査
　・マイクロクラック(表面)の検査

【測定対象】
　・光学部品
　・工業製品
　　など

【特長】
　・非接触・非破壊
　・人の主観を含まない客観的な検査が可能
　・幅広い測定対象

ハイパースペクトル イメージングシステム

屋外での計測から、ハイパースペクトル顕微鏡、ラマン測定まで幅広いラインナップ。
分光分析に関する豊富な経験や実績を元に開発された、ClydeHSI社のハイパースペクトルイメージングシステムは、研究開発での高度な解析はもちろん、量産ラインでの高速選別まで、幅広く対応することができます。
ハイパースペクトルカメラ、光源、スキャナといったハードウェアと、解析用の専用ソフトウェアを含む、オールインワンシステムだから安心です。

積分球 SR300

SR300は、黒体炉、コリメータなどの赤外線カメラの試験装置で豊富な実績を誇るCI Systems社が提供する、低価格、高性能な積分球です。
可視～近赤外の広範囲にわたる波長で均一な輝度を実現しています。可視、近赤外カメラにおける均一性、感度、ノイズの計測や校正など、様々な試験にご使用いただけます。さらに、ナイトビジョン用のカメラの試験に適した、低輝度タイプもあります。
標準タイプでポート径1、2、4インチの3種類、低輝度タイプでポート径2、4インチの2種類のサイズをご用意しています。積分球単体はもちろん、コリメータと組合わせた装置や、総合的なカメラ試験システムまで、あらゆる試験に対応した装置を提供します。

赤外光源

赤外線を使った計測や分析に適した赤外光源を幅広く取り揃えています。
■ 広帯域で安定した放射を実現し、多くの用途に対応する「熱型赤外光源」
■ 狭帯域の発光により、研究開発や産業分野の特定用途に適した「赤外線レーザー」
さまざまな分野の計測・分析で、高い信頼性を発揮します。

赤外線センサ（PbS/PbSe、MCT、T2SL、焦電 LTO/DLaTGS、サーモパイル）

赤外分光、ガス分析、炎検知、温度計測、レーザー制御などに対応した高性能赤外線センサです。
【ラインナップ一例（選択肢は素子種類によります）】
・素子：PbS/PbSe、MCT、T2SL、焦電（LTO/DLaTGS）、サーモパイル
・チャンネル数：1/2/4/8ch
・パッケージ：TO-CAN、ベアチップ
・モジュール：プリアンプ、TECコントローラ付きなど
・アナログ出力、デジタル出力

ハンディ近赤外分光器

現場での迅速な測定に対応したハンディタイプの近赤外分光器です。
【波長範囲】
1000～1600nm（10000～6250cm-1）
1450～2450nm（6896.5～4081.6cm-1）

樹脂や繊維、太陽光パネルの素材判別や飼料の成分分析に加え、液体サンプルの測定にも対応しています。
製品詳細やデモにつきましては、お気軽にご相談ください。

赤外ビューポートフランジ・ウィンドウ

放射温度計やサーモグラフィの非接触温度測定などに適した赤外線用ビューポートです。
真空・加圧環境にも対応し、ICF規格品からカスタム品まで製作可能です。1個からのご注文や窓単体の販売も可能です。
主な窓材：Ge（ゲルマニウム）、Si（シリコン）、ZnSe（セレン化亜鉛）、ZnS（硫化亜鉛）、BaF₂（フッ化バリウム）、CaF₂（フッ化カルシウム）、サファイア、ダイヤモンド、カルコゲナイドガラス

赤外用 ハーフミラー、ビームスプリッタ

赤外用ハーフミラー、ビームスプリッタです。
「イメージング」や「分光分析」などで、光を分離したい場合におすすめです。

・SWIR MWIR ハーフミラー（1.5-5µm）
・MWIR ハーフミラー（2-8µm）
・LWIR ハーフミラー（7-14µm）

・可視透過/赤外反射 ダイクロイックミラー（400-700nm/3-12µm）
・赤外透過/可視反射 ダイクロイックミラー（400-700nm/3-12µm）

その他、プリズム、ブリュースター窓、ウェッジ窓、平行窓、光拡散板、偏光板、フィルタ（バンドパス、ブロードバンドパス、ショートパス、ロングパス、ND）、回転式分光フィルタなど各種オプティクスも取扱いがございます。お気軽にお問合せください。

77K 極低温用バンドパスフィルタ

77K～300K対応のバンドパスフィルタ
・指定温度用に光学設計
・温度変化に対し耐性が高い
・特注、1枚から製造可能

その他、短納期のストックフィルタ、赤外ウインドウ等、各種オプティクスを取り扱っております。

NDIRガスセンサ・ガス濃度計

プロセス管理や排ガス測定に適した小型NDIRガスセンサです。
リアルタイムで濃度を連続出力可能で、USB接続やアナログ出力対応のアクセサリもございます。
対応ガス：
CO₂、CH₄、C₂H₄、C₂H₂、C₃H₈、C₄H₁₀、CO、NO、SO₂、NH₃、HCOOH、N₂O、SF₆、燻蒸ガス（CH₃Br、SO₂F₂）、冷媒（R32、R410a、R1234yfなど）

UV照度計

波長220～560nmのUV光源の放射照度と積算線量の測定が可能です。
お客様ごとの測定条件に最適化してオーダーメイドで製作いたします。
【概要】
　様々な場面で活用できる、UV照度の測定器です。

【主な用途】
　・水銀ランプやUV-LEDの性能評価
　・UV照射装置の点検

【測定対象】
　・水銀ランプ
　・UV-LED
　・メタルハライドランプ
　・キセノンランプ
　・太陽光
　　など

【特長】
　・お客様ごとに異なる測定ニーズに合わせたオーダーメイド仕様
　・お手頃な価格
　・お手持ちのスマホやPCでも、専用アプリでUV測定が可能

干渉距離調整可能Fizeau干渉計AccuFiz-D

小型軽量AccuFizシリーズに、干渉距離が調整できるAccuFiz-Dが登場。
短コヒーレントレーザに与えた光路差と同じ光路差の位置関係にある2面のみの干渉縞を計測するため、真空槽や恒温槽の中で試験を行う光学系の干渉計での評価を、槽外に干渉系を置いたまま実施可能。
光路差機能付属の光源部が別筐体になることで、計測部本体の小型軽量性が保持され、様々な姿勢・環境での運用に応用・拡張可能。