レンズ設計・製造展 L-31

（株）清原光学

  • 出展のみどころ

    光学測定ソリューションとして、新たにΦ300mm干渉計システムを加え、Φ200㎜干渉計、Φ25㎜干渉計、干渉計再生サービスをはじめ、干渉計ビームエクスパンダとステッチング技術や独自のFナンバーによる干渉計用球面原器、を出品し、クリスタル光学ブースにも出展をしています。昨今は、光通信機の開発にも着手し、宇宙通信分野へ参画しております。

  • Φ300mm レーザー縦型干渉計

    Φ300㎜までの研磨されたサンプルの平面度測定が可能な縦型干渉計.
    用途：Φ300㎜ミラー、ウエハー、半導体製造装置のステージ部品など大型で精密な部品の平面度計測に活用される製品.
    新規に自社開発した干渉縞解析ソフトウェア[KoptPhase]の搭載により、位相シフト測定が可能　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

  • Φ200㎜レーザー縦型干渉計

    平面度測定をキャリアフリンジ法の特徴を生かして測定する縦型干渉計です。

    【干渉計本体を縦型に設置】
    Φ200mmサイズのサンプルの平面度測定が可能で、縦型に設置することにより作業効率が向上します。

    【振動に強いため除振定盤が不要】
    キャリアフリンジ法の採用により測定中の振動の影響を受けにくいため加工現場に設置が可能です。

  • Φ25mm レーザー干渉計

    生産現場での小型レンズ検査に最適です！

    ■口径φ25mm　フィゾー型小型干渉計　（光源　半導体レーザー637nm)
    ■参照レンズ　　平面原器、球面原器　
    ■干渉縞解析ソフト　Koptwave (オプション）

  • 非球面ヌルミラー干渉計　ANI-Z1

    非球面レンズの高速透過波面測定器登場！1秒／個 ※実測時間

    ◼️量産レンズの歩留向上に！
    ◼️不良・試作レンズの解析に！
    ◼️MTFで計測できないレンズの測定に！

    本展示会では、中央精機㈱・㈱菱光社と共同出展しております。

  • 干渉計用６インチ球面原器

    既存のラインナップに無いｆナンバーの6インチ球面原器を製作いたします。ご希望の曲率半径、測定有効径をお知らせください。
    当社では、設計、製造、組立、調整を一貫して行うことにより、ご要望の仕様にお答えいたします。

  • 干渉計用ビームエクスパンダー

    お持ちのレーザー干渉計にオプションで利用でき、測定範囲を拡大することが可能です。拡大径に応じて、BE150、BE200、BE300のラインナップを取りそろえ、カスタマイズによる任意のサイズでの製造も可能です。

  • 干渉計用ステッチング機構及びソフトウェア

    　生産現場で活用されている干渉計に、測定面の干渉計測を担保する精度で回転させる機構と、回転して取得した複数の縞画像をステッチング（合成）することにより、より大きなサイズの面形状を測定できます。
    　既存設備を利用しながら最小限のコストにより機能アップさせることが可能になります。

（株）清原光学

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    住所
    東京都板橋区舟渡3-28-10
    ウェブサイトURL
    https://www.koptic.co.jp/
    担当
    矢吹　誠
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