レンズ設計・製造展 K-50
Frequency/周波数: 5Mhz/6MHZ
Crystal cutorientation/水晶切断方位: At cut/Atカット
Outer dimensions/外形寸法:Φ12.4/φ14
Can be used as a sensor to detect the deposition amount of thin film deposition as a change in film weight.
薄膜蒸着の蒸着量を膜重量の変化として捉えるセンサーにご使用頂けます。
Frequency/周波数: 5Mhz/6MHZ
Crystal cutorientation/水晶切断方位: At cut/Atカット
Outer dimensions/外形寸法:Φ12.4/φ14
Can be used as a sensor to detect the deposition amount of thin film deposition as a change in film weight.
薄膜蒸着の蒸着量を膜重量の変化として捉えるセンサーにご使用頂けます。
Frequency/周波数: 5Mhz/6MHZ
Crystal cutorientation/水晶切断方位: At cut/Atカット
Outer dimensions/外形寸法:Φ12.4/φ14
Can be used as a sensor to detect the deposition amount of thin film deposition as a change in film weight.
薄膜蒸着の蒸着量を膜重量の変化として捉えるセンサーにご使用頂けます。
Frequency/周波数: 5Mhz/6MHZ
Crystal cutorientation/水晶切断方位: At cut/Atカット
Outer dimensions/外形寸法:Φ12.4/φ14
Can be used as a sensor to detect the deposition amount of thin film deposition as a change in film weight.
薄膜蒸着の蒸着量を膜重量の変化として捉えるセンサーにご使用頂けます。
Frequency/周波数: 5Mhz/6MHZ
Crystal cutorientation/水晶切断方位: At cut/Atカット
Outer dimensions/外形寸法:Φ12.4/φ14
Can be used as a sensor to detect the deposition amount of thin film deposition as a change in film weight.
薄膜蒸着の蒸着量を膜重量の変化として捉えるセンサーにご使用頂けます。
Frequency/周波数: 5Mhz/6MHZ
Crystal cutorientation/水晶切断方位: At cut/Atカット
Outer dimensions/外形寸法:Φ12.4/φ14
Can be used as a sensor to detect the deposition amount of thin film deposition as a change in film weight.
薄膜蒸着の蒸着量を膜重量の変化として捉えるセンサーにご使用頂けます。