レーザーEXPO C-10
渋谷光学はSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します。
G100Mは100mmの有効開口、正立式構造を採用、1~6倍の画像拡大機能を備え平面部品の平置き測定・高精度測定に最適です。
また位相シフト干渉縞解析ソフト「Sirius」を搭載し、精度と効率を向上します。
このほかにも中国のメーカーの顕微鏡を3台、実機を用意してのご紹介ができる予定です。
高い分解能: プランアポクロマート対物レンズで高NA、高解像度画像を取得し、正確な色彩観察が可能。
マクロからミクロまで: 20:1のズーム比と超長作動距離で、マクロ観察からミクロ解析まで対応。
高い拡張性: 平行光学系で同軸落射観察・蛍光観察・複数人観察が簡単に実現。
人間工学に基づく設計: 様々な俯角の鏡筒でカスタマイズ可能、疲労を軽減。
●コンパクトなデザインと便利な操作性: 様々な環境の研究室に適応
●優れた光学性能: CACI無限遠補正光学系で明るく鮮明な観察像を提供
●効率的な照明システム: LED光源とBuilt-in透過/落射蛍光照明系でセッティング時間を短縮
●高い防振性: 一体設計で防振性が高く安定した細胞観察が可能
●多様なアプリケーション対応: 細胞生物学、発育生物学、バイオテクノロジーなどに対応
中国の光学機器大手SHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します。
100mmの有効開口を持つG100Mは、正立式構造で平面部品の高精度測定に適しています。
高性能レーザー、高解像度光学系、1~6倍の画像拡大機能、精密な平面標準ミラーを備え、高精度な測定を実現します。
位相シフト干渉縞解析ソフトウェア「Sirius」を搭載し、測定精度と効率を向上させます。
微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現。
定価:4,000,000円
●特殊ハーフミラー(特許取得済)の採用により裏面反射光をカットし裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。
●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。
●色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
渋谷光学では対物レンズを各種お取り扱いしております。
コストパフォーマンスの高い商品を各種を標準品として取り揃え、短納期のご要望にお応えします。
大手の光学メーカーでは高額になる特注品の製作もリーズナブルな価格でご提供いたします。
照明系を含むシステム全体の設計も、お気軽にご相談ください。
●超長作動距離明視野対物レンズ
●金属顕微鏡用対物レンズ
●近紫外対物レンズ
●近赤外対物レンズ その他
f16.0mmの新製品「OK007-Lep」も登場!
SWIRイメージング用に最適化された設計
電子基板検査、監視、短波長赤外分光、偽造防止、工程品質管理等
様々なアプリケーションに。
●波長900~2500nmまで色収差を補正。
●ARコーティングで全波長範囲において透過率が82%以上。
●Cマウント2/3型カメラにも対応。ディストーションが0.2%以下に抑えた設計。
●定価:300,000円
ガラスキャリブレーションプレートは撮像されたプレートの画像を用いて、ロボットハンドラーや移動ステージの較正や点検・レンズのディストレーション補正等に使用します。渋谷光学では、グリッド・チェッカー・ドットと3つパターンから3タイプ・各種サイズにて、ご用意しております。また特注品も受け賜ります。PETにエマルジョン膜印刷で作る、大きくても低価格なフィルムキャリブレーションシートもございます。
レーザー微細加工の高スループット化に新しいソリューション
Leonisシリーズ/Herculesシリーズ
当社の産業用高出力超高速パルスレーザは、ファイバーシードと固体増幅技術を採用し、光学、機械、電気モジュールを統合することにより、コンパクトな設置面積を実現
繰り返し周波数は1Hzから6MHzまで調整可能、高出力のシングルパルスエネルギーとバーストパルスエネルギーを実現
PCソフトウェアで制御され、標準的な工業デザインを採用、ユーザーフレンドリーなインターフェースをサポート
7X24時間の工業実地テストに合格
主なアプリケーション:
TFTディスプレイスクリーン切断、携帯電話カバーガラス切断、サファイア切断、OLEDスクリーン切断、ガラスマーキング、
PIフィルム切断、インク除去、薄膜アブレーション、PCB穴あけ、表面処理、セラミック切断・穴あけ・スクライビング、
金属穴あけ、フレキシブル材切断、LCP 5Gアンテナ切断
渋谷光学はSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します。
G100Mは100mmの有効開口、正立式構造を採用、1~6倍の画像拡大機能を備え平面部品の平置き測定・高精度測定に最適です。
また位相シフト干渉縞解析ソフト「Sirius」を搭載し、精度と効率を向上します。
このほかにも中国のメーカーの顕微鏡を3台、実機を用意してのご紹介ができる予定です。
高い分解能: プランアポクロマート対物レンズで高NA、高解像度画像を取得し、正確な色彩観察が可能。
マクロからミクロまで: 20:1のズーム比と超長作動距離で、マクロ観察からミクロ解析まで対応。
高い拡張性: 平行光学系で同軸落射観察・蛍光観察・複数人観察が簡単に実現。
人間工学に基づく設計: 様々な俯角の鏡筒でカスタマイズ可能、疲労を軽減。
●コンパクトなデザインと便利な操作性: 様々な環境の研究室に適応
●優れた光学性能: CACI無限遠補正光学系で明るく鮮明な観察像を提供
●効率的な照明システム: LED光源とBuilt-in透過/落射蛍光照明系でセッティング時間を短縮
●高い防振性: 一体設計で防振性が高く安定した細胞観察が可能
●多様なアプリケーション対応: 細胞生物学、発育生物学、バイオテクノロジーなどに対応
中国の光学機器大手SHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します。
100mmの有効開口を持つG100Mは、正立式構造で平面部品の高精度測定に適しています。
高性能レーザー、高解像度光学系、1~6倍の画像拡大機能、精密な平面標準ミラーを備え、高精度な測定を実現します。
位相シフト干渉縞解析ソフトウェア「Sirius」を搭載し、測定精度と効率を向上させます。
微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現。
定価:4,000,000円
●特殊ハーフミラー(特許取得済)の採用により裏面反射光をカットし裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。
●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。
●色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
渋谷光学では対物レンズを各種お取り扱いしております。
コストパフォーマンスの高い商品を各種を標準品として取り揃え、短納期のご要望にお応えします。
大手の光学メーカーでは高額になる特注品の製作もリーズナブルな価格でご提供いたします。
照明系を含むシステム全体の設計も、お気軽にご相談ください。
●超長作動距離明視野対物レンズ
●金属顕微鏡用対物レンズ
●近紫外対物レンズ
●近赤外対物レンズ その他
f16.0mmの新製品「OK007-Lep」も登場!
SWIRイメージング用に最適化された設計
電子基板検査、監視、短波長赤外分光、偽造防止、工程品質管理等
様々なアプリケーションに。
●波長900~2500nmまで色収差を補正。
●ARコーティングで全波長範囲において透過率が82%以上。
●Cマウント2/3型カメラにも対応。ディストーションが0.2%以下に抑えた設計。
●定価:300,000円
ガラスキャリブレーションプレートは撮像されたプレートの画像を用いて、ロボットハンドラーや移動ステージの較正や点検・レンズのディストレーション補正等に使用します。渋谷光学では、グリッド・チェッカー・ドットと3つパターンから3タイプ・各種サイズにて、ご用意しております。また特注品も受け賜ります。PETにエマルジョン膜印刷で作る、大きくても低価格なフィルムキャリブレーションシートもございます。
レーザー微細加工の高スループット化に新しいソリューション
Leonisシリーズ/Herculesシリーズ
当社の産業用高出力超高速パルスレーザは、ファイバーシードと固体増幅技術を採用し、光学、機械、電気モジュールを統合することにより、コンパクトな設置面積を実現
繰り返し周波数は1Hzから6MHzまで調整可能、高出力のシングルパルスエネルギーとバーストパルスエネルギーを実現
PCソフトウェアで制御され、標準的な工業デザインを採用、ユーザーフレンドリーなインターフェースをサポート
7X24時間の工業実地テストに合格
主なアプリケーション:
TFTディスプレイスクリーン切断、携帯電話カバーガラス切断、サファイア切断、OLEDスクリーン切断、ガラスマーキング、
PIフィルム切断、インク除去、薄膜アブレーション、PCB穴あけ、表面処理、セラミック切断・穴あけ・スクライビング、
金属穴あけ、フレキシブル材切断、LCP 5Gアンテナ切断