光学式膜厚測定システム SKOP

SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。
基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します

IOI社 高出力LED

IOI社は、UV-VIS-NIRの幅広い波長範囲において高出力なLEDを提供いたします。
医療分野における蛍光励起やリアルタイムPCRや、
産業分野における検査用のリモート照明など、様々な分野での利用可能です。

LPMS レーザーパワー測定器

350~1100nm、900~1700nmおよび数Ｗ～数百Ｗのレーザー、半導体レーザーの全出力測定が可能な積分球システムです。積分球内は特殊構造により、ビーム偏極やビームアラインメントに影響されません。 アプリケーションに応じて反射材、ディテクタをお選びいただけます。
ディテクタポートが２つあり、ディテクタやファイバ分光器を追加することができます。

光学式膜厚測定システム SKOP

SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。
基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します

IOI社 高出力LED

IOI社は、UV-VIS-NIRの幅広い波長範囲において高出力なLEDを提供いたします。
医療分野における蛍光励起やリアルタイムPCRや、
産業分野における検査用のリモート照明など、様々な分野での利用可能です。

LPMS レーザーパワー測定器

350~1100nm、900~1700nmおよび数Ｗ～数百Ｗのレーザー、半導体レーザーの全出力測定が可能な積分球システムです。積分球内は特殊構造により、ビーム偏極やビームアラインメントに影響されません。 アプリケーションに応じて反射材、ディテクタをお選びいただけます。
ディテクタポートが２つあり、ディテクタやファイバ分光器を追加することができます。