光学薄膜フェア C-22

ジェー・エー・ウーラム・ジャパン(株)
  • 出展のみどころ

    弊社は非接触・非破壊で薄膜やバルクを測定・解析する分光エリプソメーターの専門メーカーです。真空紫外から遠赤外までの広い波長範囲をカバーする世界一多種な装置と、様々な産業および研究分野での応用例をご紹介いたします。

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    住所
    東京都杉並区荻窪5-22-9 藤ビル2F
    ウェブサイトURL
    https://www.jawjapan.com/
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