レーザー科学技術フェア E-24
本展示会では、 光学部品や光学機器の品質、性能を波面収差にて定量化できる波面センサ(PWSシリーズ)及び 波面センサを搭載した計測システム(LUCAS)の2製品を展示致します。 以下のテーマにご興味のある方は、是非ブースへお越しください。。 ・レーザー加工・露光品質改善 ・車載カメラ、産業用カメラ、撮像系レンズの完成品検査/群・組レンズの組立調整、ミラーの反射波面、カシメ工程での活用
☆高速波面センサ (DUVモデル) 基本仕様 ・測定有効径:φ2.0mm ~ φ7.0mm ・測定波長:200 ~ 800nm ・測定精度(3σ):< 1/100λ rms ・測定再現性(3σ):< 1/500λ ・測定レンジ(Sa3):~18λ ・リアルタイム計測:~15Hz ☆DUV波長対応モデルを新規ラインナップに追加!
☆自社開発のShack-Hartmann方式の波面センサを使用した、レンズユニットの評価システムです。 波面計測システム(LUCAS)の活用事例 ・産業用カメラ、撮像系レンズ、車載カメラの完成品検査 MTF、スポット画像検査からの置き換え ・群組レンズの組立調整工程 偏芯調整、レンズ間距離調整、カシメ工程での活用 ・レーザ加工/露光装置の光学アライメント 光軸、コリメート調整
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