赤外線フェア A-02

(株)アイ・アール・システム
  • 出展のみどころ

    赤外線関連機器の輸入販売および開発を行っており、世界の最先端技術をご紹介します。

    主な出展製品は次の通りです。
    ・ハンディ近赤外分光器
    ・77K 極低温用バンドパスフィルタ
    ・UV照度計
    ・アクティブサーモグラフィー
    ・光学ズーム式冷却サーモグラフィ
    ・ハイパースペクトルイメージングシステム
    ・干渉距離調整可能Fizeau干渉計
    ・スクラッチ・ディグ自動検査装置
    ・レンズ偏芯評価、調整装置LASシリーズ

  • ハンディ近赤外分光器

    現場で、数秒で測定完了!ハンディ近赤外分光器
    【波長範囲】
    1450-2450nm(6896.5-4081.6cm-1)
    1000-1600nm(10000-6250cm-1)

    一部、樹脂/プラスチック、太陽光パネル、繊維の素材判別、家畜飼料の成分分析モードも販売しております。
    製品詳細、デモ測定についてはお気軽にご相談ください。

  • 77K 極低温用バンドパスフィルタ

    77K~300K対応のバンドパスフィルタ
    ・指定温度用に光学設計
    ・温度変化に対し耐性が高い
    ・特注、1枚から製造可能

    その他、短納期のストックフィルタ、赤外ウインドウ等、各種オプティクスを取り扱っております。

  • UV照度計

    波長220~560nmのUV光源の放射照度と積算線量の測定が可能です。
    お客様ごとの測定条件に最適化してオーダーメイドで製作いたします。
    【概要】
     様々な場面で活用できる、UV照度の測定器です。

    【主な用途】
     ・水銀ランプやUV-LEDの性能評価
     ・UV照射装置の点検

    【測定対象】
     ・水銀ランプ
     ・UV-LED
     ・メタルハライドランプ
     ・キセノンランプ
     ・太陽光
      など

    【特長】
     ・お客様ごとに異なる測定ニーズに合わせたオーダーメイド仕様
     ・お手頃な価格
     ・お手持ちのスマホやPCでも、専用アプリでUV測定が可能

  • ハイパースペクトル イメージングシステム

    屋外での計測から、ハイパースペクトル顕微鏡、ラマン測定まで幅広いラインナップ。
    分光分析に関する豊富な経験や実績を元に開発された、ClydeHSI社のハイパースペクトルイメージングシステムは、研究開発での高度な解析はもちろん、量産ラインでの高速選別まで、幅広く対応することができます。
    ハイパースペクトルカメラ、光源、スキャナといったハードウェアと、解析用の専用ソフトウェアを含む、オールインワンシステムだから安心です。

  • 干渉距離調整可能Fizeau干渉計AccuFiz-D

    小型軽量AccuFizシリーズに、干渉距離が調整できるAccuFiz-Dが登場。
    短コヒーレントレーザに与えた光路差と同じ光路差の位置関係にある2面のみの干渉縞を計測するため、真空槽や恒温槽の中で試験を行う光学系の干渉計での評価を、槽外に干渉系を置いたまま実施可能。
    光路差機能付属の光源部が別筐体になることで、計測部本体の小型軽量性が保持され、様々な姿勢・環境での運用に応用・拡張可能。

  • スクラッチ・ディグ自動検査装置

    【概要】
     光技術を用いて物体表面のキズを検出し、
     スクラッチ・ディグの評価や検査レポートの作成を行います。


    【主な用途】
     ・量産品の出荷検査・成績書作成
     ・試作品の品質評価

    【測定対象】
     ・光学部品
     ・半導体ウェハ
      など

    【特長】
     ・非接触・非破壊
     ・MIL規格またはISO規格に準拠した定量評価
     ・複数個を並べて測定する場合でも個体ごとのレポートを作成
     ・ユーザ側で設定できる閾値に応じて、合否判定も可能

  • レンズ偏芯評価、調整装置LASシリーズ

    可視から遠赤外まで、各種レンズの偏芯評価と調芯ができるレーザ偏芯検査装置。各波長に適したレーザおよびカメラを搭載することで、表面反射および共焦点の両方での偏芯評価ができるため、他社の同様製品より高精度であり、また他社製品では不可能な平面を持つレンズも正確に評価できる。更にオプションで、3次元形状評価機能や、面間距離測定機能なども追加でき、このシリーズ1台ですべてのレンズ偏芯の評価と調芯が可能。

  • アクティブ・サーモグラフィ

    非破壊、非接触、高温度分解能、高空間分解能、高速撮影可能な非破壊検査装置の一種のアクティブサーモグラフィを紹介致します。サンプルに通電、超音波、電磁誘導など外部から加熱、光を照射し、故意に熱的な不均一性を生み出し、サーモグラフィで温度差を検知します。その外部からの励起を周期的に行い、その周波数と同期検波する事により、より微小な温度差を検知する事が出来ます。
    <アプリケーション>
    溶接、接合部の検査、CFRPの検査、電気回路、半導体の検査、構造物の内部欠陥の検査
    <特長>
    安価でシームレスに提供可能なオプション
    簡単操作の直感的なGUI
    測定対象物の様々な状態をリアルタイム表示
    ライブ画像と振幅画像の合成
    カスタム可能で、実験室レベルから量産設備レベルまで柔軟に対応

  • 光学ズーム式冷却サーモグラフィ ImageIR® 6300 Z

    複数のレンズを購入するコストや、交換する手間から解放する、フルレンジ放射温度較正仕様の画期的なズームレンズ付きモデル、ImageIR 6300Zがハイエンドサーモグラフィ ImageIRシリーズに登場しました。最先端のHOT検出器(XBn技術)を採用、小型・軽量・低消費電力で、ドローンや航空機への搭載にも適したコンパクトなデザインです。

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    住所
    東京都多摩市愛宕4-6-20
    ウェブサイトURL
    https://www.irsystem.com
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