分光フェア A-22
FT-IR方式の分光を2次元で行うことができます。 波長範囲は1~1.7μmと8~12μmの2種類を用意。VGAまたはQVGAの各画素で分光データを持てるため、特定の成分を抽出してマッピング描画することができ、分布状況の把握や個数のカウントといった処理に繋げやすくなっております。また、任意の画素を選択して分光データをCSV形式で出力できるため、お使いの解析ソフトでの解析も可能です。
中赤外帯域(8~12μm)用の2次元FT-IR分光イメージングシステムです。 この波長帯域は、「指紋領域」と呼ばれ、この波長帯域における波長特性を計測、解析することにより、対象物の組成の同定・定量を行うことができます。 2次元計測により、エリア内の複数のサンプルを1回の計測で行うことができ、しかも異なるサンプルであっても弁別できます。 廃プラスチックの選別、その他環境汚染物質の測定等での利用が期待できます。
近赤外帯域(1~1.7μm)用の2次元FT-IR分光イメージング装置です。 2次元計測が可能なため、エリア内を非破壊・非接触で計測できます。 計測エリア範囲は、装置前方の交換レンズを変えることで変更でき、極微小な対象物から、構造物等の大きな対象物をカバーできます。 異物検査、漏水検知、コンクリート劣化診断等の分野での利用が期待できます。
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