レーザー科学技術フェア E-24
本展示会では、 光学部品や光学機器の品質、性能を波面収差にて定量化できる波面センサ(PWSシリーズ)及び 波面センサを搭載した計測システム(LUCAS)の2製品を展示致します。 以下のテーマにご興味のある方は、是非ブースへお越しください。。 ・レーザー加工・露光品質改善 ・車載カメラ、産業用カメラ、撮像系レンズの完成品検査/群・組レンズの組立調整、ミラーの反射波面、カシメ工程での活用
◇PWSシリーズの特長 ☆DUV波長対応モデルを新規ラインナップに追加! ・広い測定レンジ最大500λ (Tilt/λ=633nm) スマホ向け小径/非球面レンズ ・リアルタイムに結果出力(~30Hz) 振動に強く生産工程での採用実績多数 ・測定精度/多波長対応 精度λ/100、再現性λ/500、波長200nm~1100nm ☆光学系のシステム提案、構築までサポート可能!
☆自社開発のShack-Hartmann方式の波面センサを使用した、レンズユニットの評価システムです。 波面計測システム(LUCAS)の活用事例 ・産業用カメラ、撮像系レンズ、車載カメラの完成品検査 MTF、スポット画像検査からの置き換え ・群組レンズの組立調整工程 偏芯調整、レンズ間距離調整、カシメ工程での活用 ・レーザ加工/露光装置の光学アライメント 光軸、コリメート調整
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