レーザーEXPO K-22
Spectra-Physicsは、MKS Instruments Photonics Solutions部門の1ブランドです。本展示会では微細加工に最適な産業用ピコ秒レーザーをご紹介いたします。また、Newportブランド製品として回折格子、光学フィルター、自由曲面レプリカミラーを中心に展示します。
Richardsonグレーティングは、ルールドおよびホログラフィックのマスターを用いた再現性の高いレプリケーションプロセスを通じて継続的なスペクトル分析を可能にします。
ルールド&ホログラフィックマスタリング
再現性の高いレプリケーションプロセス
カスタム回折格子
平面ルールド回折格子
平面ホログラフィック回折格子
凹面ルールド回折格子
凹面ホログラフィック回折格子
エシェル回折格子
Newport ブランドのレプリカミラーは、より軽量で、より熱的に安定し、より剛性の高く、製品組み立てと位置合わせを容易にします。
再現性の高いレプリケーションプロセス High-Fidelity Replication
楕円形レプリカミラー Ellipsoidal
非軸放物面レプリカミラー Off-Axis Parabolic
レトロリフレクター Retro-Reflectors
パルス制御 TimeShift ps搭載によりアジャスタブルなバースト内パルス数、バーストのパルス間隔、プログラマブルなバースト形状が可能。
- 波長 1064nm
- 出力 >50W@400kHz
- 最大パルスエネルギー >200µJ@200kHz
- 繰返し周波数 シングルショット - 10MHz
- パルス幅 <15ps (13ps 典型値)
・最大級の市場設置実績
・1,000件以上の査読済み論文・文献で実証された高い信頼性
・高い柔軟性を実現する幅広いチューニング範囲(680〜1300nm)
・高ピークパワーにより最大蛍光発生
・出力調整機能内蔵のInSight X3+ AおよびInSight X3 Aモデル
・最大出力> 7.2 W
・最狭線幅<20kHz rms
・コンパクト、密閉構造、完全自動設計
・ハンズフリー操作
・オプティクスセット1つで広帯域チューニング(>400nm)
・最も広いモードホップフリーピエゾチューニング >50GHz
・最大400nmのモードホップフリーチューニングのためのスキャンスティッチング
・波長計との組み合わせでナノメートルを超える拡張スキャン可能
Spectra-Physicsは、MKS Instruments Photonics Solutions部門の1ブランドです。本展示会では微細加工に最適な産業用ピコ秒レーザーをご紹介いたします。また、Newportブランド製品として回折格子、光学フィルター、自由曲面レプリカミラーを中心に展示します。
Richardsonグレーティングは、ルールドおよびホログラフィックのマスターを用いた再現性の高いレプリケーションプロセスを通じて継続的なスペクトル分析を可能にします。
ルールド&ホログラフィックマスタリング
再現性の高いレプリケーションプロセス
カスタム回折格子
平面ルールド回折格子
平面ホログラフィック回折格子
凹面ルールド回折格子
凹面ホログラフィック回折格子
エシェル回折格子
Newport ブランドのレプリカミラーは、より軽量で、より熱的に安定し、より剛性の高く、製品組み立てと位置合わせを容易にします。
再現性の高いレプリケーションプロセス High-Fidelity Replication
楕円形レプリカミラー Ellipsoidal
非軸放物面レプリカミラー Off-Axis Parabolic
レトロリフレクター Retro-Reflectors
パルス制御 TimeShift ps搭載によりアジャスタブルなバースト内パルス数、バーストのパルス間隔、プログラマブルなバースト形状が可能。
- 波長 1064nm
- 出力 >50W@400kHz
- 最大パルスエネルギー >200µJ@200kHz
- 繰返し周波数 シングルショット - 10MHz
- パルス幅 <15ps (13ps 典型値)
・最大級の市場設置実績
・1,000件以上の査読済み論文・文献で実証された高い信頼性
・高い柔軟性を実現する幅広いチューニング範囲(680〜1300nm)
・高ピークパワーにより最大蛍光発生
・出力調整機能内蔵のInSight X3+ AおよびInSight X3 Aモデル
・最大出力> 7.2 W
・最狭線幅<20kHz rms
・コンパクト、密閉構造、完全自動設計
・ハンズフリー操作
・オプティクスセット1つで広帯域チューニング(>400nm)
・最も広いモードホップフリーピエゾチューニング >50GHz
・最大400nmのモードホップフリーチューニングのためのスキャンスティッチング
・波長計との組み合わせでナノメートルを超える拡張スキャン可能

