応答速度に優れたハイスピード空間光変調器「SLM-210」

SLM-210は、当社第2世代の液晶LCOS （Liquid Crystal on Silicon）技術を採用した高性能製品として、LCOSの応答速度を大幅に向上させた高速モデルです。SLM-210は当社従来比20倍以上の高速化となる、応答速度10 ms以下を実現。LCOSの応答速度向上に伴い当社特有の優れた高階調度と相まって、光波面補正、レーザー加工用光ビーム整形、バイオセンシング、量子コンピューティングなどの光応用分野での性能向上に貢献します。

波長掃引型フォトニクスアナライザ「SPA-100」

波長可変レーザ（TSLシリーズ）と組み合わせたシステムは、OFDR (Optical Frequency Domain Reflectometry)技術により、光デバイスの後方反射、および、透過特性を空間領域で分析できます。
このシステムは5μmの高サンプリング分解能のため、フォトニック集積回路（PIC）、および、シリコンフォトニクス（SiPh）デバイス内の構造を簡単に識別できます。

拡張可能シャーシシステム「XCS-100」

XCS-100は様々な光測定環境に対応できるように再設計された光測定器システムとなります。コンパクトな1Uハーフラックに統一された光源、アッテネータ、スイッチ、およびパワーメータを任意に組み合わせることがによって、光測定環境に柔軟性や拡張性をもたらします。この拡張可能シャーシシステムの構成方法は多岐にわたるため、一度相談ください。弊社のエンジニアが最適なソリューションを提案させていただきます。

波長可変レーザー「TSL-570」

高速スキャンと高い安定性を両立した波長可変レーザーです。新しい光共振器設計により最大200nm/sの掃引速度制御とサブピコメートルの分解能と精度を備えています。 さらに、新しい密閉型レーザーキャビティによりモードホップフリーで、すべての波長で安定した出力を提供します。

光学特性検査システム

波長可変レーザ（TSLシリーズ）とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット (PCU-110) および、専用ソフトウェアを組み合わせた光学特性検査システムです。波長可変レーザーからの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDL/RLなどの光学特性を測定します。

応答速度に優れたハイスピード空間光変調器「SLM-210」

SLM-210は、当社第2世代の液晶LCOS （Liquid Crystal on Silicon）技術を採用した高性能製品として、LCOSの応答速度を大幅に向上させた高速モデルです。SLM-210は当社従来比20倍以上の高速化となる、応答速度10 ms以下を実現。LCOSの応答速度向上に伴い当社特有の優れた高階調度と相まって、光波面補正、レーザー加工用光ビーム整形、バイオセンシング、量子コンピューティングなどの光応用分野での性能向上に貢献します。

波長掃引型フォトニクスアナライザ「SPA-100」

波長可変レーザ（TSLシリーズ）と組み合わせたシステムは、OFDR (Optical Frequency Domain Reflectometry)技術により、光デバイスの後方反射、および、透過特性を空間領域で分析できます。
このシステムは5μmの高サンプリング分解能のため、フォトニック集積回路（PIC）、および、シリコンフォトニクス（SiPh）デバイス内の構造を簡単に識別できます。

拡張可能シャーシシステム「XCS-100」

XCS-100は様々な光測定環境に対応できるように再設計された光測定器システムとなります。コンパクトな1Uハーフラックに統一された光源、アッテネータ、スイッチ、およびパワーメータを任意に組み合わせることがによって、光測定環境に柔軟性や拡張性をもたらします。この拡張可能シャーシシステムの構成方法は多岐にわたるため、一度相談ください。弊社のエンジニアが最適なソリューションを提案させていただきます。

波長可変レーザー「TSL-570」

高速スキャンと高い安定性を両立した波長可変レーザーです。新しい光共振器設計により最大200nm/sの掃引速度制御とサブピコメートルの分解能と精度を備えています。 さらに、新しい密閉型レーザーキャビティによりモードホップフリーで、すべての波長で安定した出力を提供します。

光学特性検査システム

波長可変レーザ（TSLシリーズ）とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット (PCU-110) および、専用ソフトウェアを組み合わせた光学特性検査システムです。波長可変レーザーからの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDL/RLなどの光学特性を測定します。