赤外線フェア R-23

(株)アイ・アール・システム
  • 出展のみどころ

    赤外線関連機器の輸入販売および開発を行っており、世界の最先端技術をご紹介します。

    主な出展製品は次の通りです。
    ・ガス濃度センサ
    ・中赤外バランス検出器
    ・UV照度計
    ・アクティブサーモグラフィー
    ・ハイパースペクトルカメラ
    ・スクラッチ・ディグ自動検査装置
    ・光超音波センサ

    最先端機器を利用した測定サービス、コンサルティング&開発委託や機器レンタルにつきましても対応しておりますので、ブースにて弊社担当者にご相談ください。

  • NDIRガスセンサ・ガス濃度計

    プロセス管理や排ガス測定におすすめな小型のガスセンサです。
    リアルタイムの測定値を濃度単位(Vol.%、ppm)で連続出力します。

    PCにUSBで接続して使用可能な「評価キット」や「ロガーソフト」、
    4-20mAや0-5Vなどのアナログ信号で出力可能なアクセサリもございます。

    対応ガス:CO2、CO、CH4、C2H4、SF6、NO、N2O、NH3、SO2、SO2F2、CH3Br、冷媒ガス(R22、R23、R32、R123、R125、R134a、R404a、R407a、R407c、R407f、R410a、R448a、R449a、R452a、R455a、R507、R513a、R515b、R1233zd、R1234yf、R1234ze)

  • 中赤外バランス検出器 (HgCdTe/MCT)

    中赤外(2.9~5.5 µm)対応のバランス検出器、新登場!

    同様のスペクトル感度を持つMCT素子を2ch搭載したバランス検出器です。
    「QCLを用いたガス測定」や「FT-IR」のノイズ除去におすすめです。

    ・マニュアル/オートバランスモードを切り替え可能
    ・単一電源、冷却機構やTECコントローラ一体型

    8μm帯など、上記以外の波長範囲をご希望の場合もお気軽にご相談ください。

  • UV照度計

    波長220~560nmのUV光源の放射照度と積算線量の測定が可能です。
    お客様ごとの測定条件に最適化してオーダーメイドで製作いたします。
    【概要】
     様々な場面で活用できる、UV照度の測定器です。

    【主な用途】
     ・水銀ランプやUV-LEDの性能評価
     ・UV照射装置の点検

    【測定対象】
     ・水銀ランプ
     ・UV-LED
     ・メタルハライドランプ
     ・キセノンランプ
     ・太陽光
      など

    【特長】
     ・お客様ごとに異なる測定ニーズに合わせたオーダーメイド仕様
     ・お手頃な価格
     ・お手持ちのスマホやPCでも、専用アプリでUV測定が可能

  • アクティブ・サーモグラフィ

    非破壊、非接触、高温度分解能、高空間分解能、高速撮影可能な非破壊検査装置の一種のアクティブサーモグラフィを紹介致します。サンプルに通電、超音波、電磁誘導など外部から加熱、光を照射し、故意に熱的な不均一性を生み出し、サーモグラフィで温度差を検知します。その外部からの励起を周期的に行い、その周波数と同期検波する事により、より微小な温度差を検知する事が出来ます。
    <アプリケーション>
    溶接、接合部の検査、CFRPの検査、電気回路、半導体の検査、構造物の内部欠陥の検査
    <特長>
    安価でシームレスに提供可能なオプション
    簡単操作の直感的なGUI
    測定対象物の様々な状態をリアルタイム表示
    ライブ画像と振幅画像の合成
    カスタム可能で、実験室レベルから量産設備レベルまで柔軟に対応

  • ハイパースペクトル イメージングシステム

    屋外での計測から、ハイパースペクトル顕微鏡、ラマン測定まで幅広いラインナップ。
    分光分析に関する豊富な経験や実績を元に開発された、ClydeHSI社のハイパースペクトルイメージングシステムは、研究開発での高度な解析はもちろん、量産ラインでの高速選別まで、幅広く対応することができます。
    ハイパースペクトルカメラ、光源、スキャナといったハードウェアと、解析用の専用ソフトウェアを含む、オールインワンシステムだから安心です。

  • スクラッチ・ディグ自動検査装置

    【概要】
     光技術を用いて物体表面のキズを検出し、
     スクラッチ・ディグの評価や検査レポートの作成を行います。


    【主な用途】
     ・量産品の出荷検査・成績書作成
     ・試作品の品質評価

    【測定対象】
     ・光学部品
     ・半導体ウェハ
      など

    【特長】
     ・非接触・非破壊
     ・MIL規格またはISO規格に準拠した定量評価
     ・複数個を並べて測定する場合でも個体ごとのレポートを作成
     ・ユーザ側で設定できる閾値に応じて、合否判定も可能

  • 光超音波センサ

    【概要】
     測定対象に外部から熱を与えた際に出る超音波を捉えることで、
     人の目に見えない欠陥を「見える化」します。

    【主な用途】
     ・内部欠陥の検査
     ・マイクロクラック(表面)の検査

    【測定対象】
     ・光学部品
     ・工業製品
      など

    【特長】
     ・非接触・非破壊
     ・人の主観を含まない客観的な検査が可能
     ・幅広い測定対象

(株)アイ・アール・システム

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住所
東京都多摩市愛宕4-6-20
ウェブサイトURL
https://www.irsystem.com
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